Высокоточное исследование поверхности от десятков ангстрем до атомарного уровня
Сканирующие атомно-силовые микроскопы (АСМ / AFM)

Сканирующие атомно-силовые микроскопы P100 / P150 и P300 предназначены для анализа рельефа, структуры и свойств поверхности с нанометровым и субнанометровым разрешением.

Приборы применяются в электронике, кристаллографии, материаловедении, нанотехнологиях, НИИ и R&D-центрах, обеспечивая стабильные, воспроизводимые и автоматизированные измерения.

Линейка АСМ: от универсальных задач до атомарного разрешения АСМ P100 / P150

Универсальные АСМ для лабораторий и научных исследований

  • Высокое разрешение по оси Z — 0,12 нм
  • Диапазон сканирования до 15 × 15 мкм
  • Полная автоматизация настройки и сканирования
  • Оптимальны для:
  • электроники
  • тонких плёнок
  • кристаллографии
  • учебных и исследовательских лабораторий

АСМ P300 Платформа атомарного уровня для передовых исследований

  • Z-разрешение до 0,01 нм
  • Сменные сканеры под разные задачи
  • Астигматическая самовыравнивающаяся оптика
  • Предназначен для:
  • атомарной топографии
  • наноматериалов
  • фундаментальной науки
  • высокоточных R&D-задач
  • Общие ключевые преимущества линейки

🔬 Субнанометровое и атомарное разрешение

  • Исследование поверхности на уровне отдельных атомных ступеней
  • Контроль шероховатости, дефектов, доменной структуры

⚙️ Полная автоматизация работы

  • Автоматическое выравнивание наконечника
  • Моторизованный Z-approach

Сканирование в один клик:

  • настройка
  • приближение
  • калибровка
  • запуск измерений

🎯 Астигматическая оптическая система(для P100 / P150 и P300)

  • Размер лазерного пятна — 0,56 мкм
  • Отсутствие ручной юстировки
  • Лазер и детектор постоянно самовыравниваются
  • Повышенная стабильность при длительных измерениях

🧠 Интуитивное ПО PSX AFM

  • Подсказки параметров сканирования
  • Предупреждения об ошибках
  • Управление библиотеками данных
  • Экспорт данных в сторонние аналитические системы
  • Постоянные обновления ПО для всех пользователей

Параметр

P100 / P150

P300

Режим сканирования

Полуконтактный

Полуконтактный

Z-Approach

Моторизованный

Моторизованный

Z-разрешение

0,12 нм

0,01 нм

Частота привода

20–500 kHz

20–220 kHz

Диапазон сканирования XY

15 × 15 мкм

зависит от сканера

Максимальная скорость

4 Hz

5 Hz

Вращение образца

0–359°

0–359°

Вес образца

до 10 г

до 10 г

Модель

Максимальный размер

P100

10 × 10 × 3 мм

P150

30 × 30 × 10 мм

P300

до 30 × 30 × 10 мм


Данные и измерения

  • Топография поверхности
  • Фаза
  • Амплитуда
  • 3D-визуализация
  • X-Z и Y-Z линейные профили
  • Уплощение поверхности в реальном времени

Где применяются АСМ P100 / P150 / P300

  • микро- и наноэлектроника
  • кристаллография
  • наноматериалы
  • тонкие плёнки и покрытия
  • научные исследования
  • университеты и НИИ

Подбор конфигурации под задачу


Компания Радоника:

  • подбирает модель и сканер под задачу заказчика
  • проводит демонстрацию на реальных образцах
  • выполняет запуск и обучение
  • оказывает методическую и сервисную поддержку

Как выбрать модель

  • P100 / P150 — оптимальный выбор для лабораторий, учебных и прикладных исследований
  • P300 — решение для атомарных измерений и высокоточных научных задач

Мы поможем выбрать конфигурацию под ваш бюджет и задачи, без переплаты и избыточных опций.

Атомно-силовая микроскопия без сложной настройки

АСМ P100 / P150 и P300 — это сочетание:

высокого разрешения · интеллектуальной автоматизации · стабильности · простоты работы


Подберём атомно силовой микроскоп под ваш материал и задачу.


Оставьте заявку - инженер Радоники предложит оптимальное решение

для вашего производства или лаборатории.

Каталог приборов
Оставляя заявку, вы даете согласие на обработку персональных данных в соответствии с политикой конфенденциальности
Оставьте контакты и мы свяжемся
с вами для бесплатной консультации
Эксклюзивно подходим к каждому проекту и ценим долгосрочное сотрудничество
Made on
Tilda